Installation de notre Microscope Electronique à Balayage

Découvrez notre MEB !

Le Microscope Electronique à Balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy) est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Commercialisé pour la première fois en 1965 par Cambridge Instrument Company, cet appareil a évolué au fil des années et des avancées technologiques. Il est à l’heure d’aujourd’hui, un instrument incontournable dans les laboratoires de recherche et développement, d’expertise et de fiabilité.

Plébiscitée par les acteurs des domaines les plus pointus tels que l’aéronautique, le nucléaire et la pharmaceutique, cette technologie polyvalente permet de sonder la matière et d’en révéler tous les secrets.

Application dédiée à la connectique

Notre choix d’investissement s’est porté sur le Microscope Electronique à Balayage JEOL.

L’utilisation du MEB JEOL pour l’expertise de contacts est particulièrement pertinente car il permet de mettre en évidence conjointement la rugosité de surface et la composition chimique des parties observées.

En ce qui concerne le domaine de la connectique et de la physique du point de contact, les zones d’abrasions sévères peuvent être ainsi révélées et la cause de l’endommagement du contact identifiée.

Surprenant dans sa capacité à répondre aux besoins les plus spécifiques, c’est un appareil qui peut être largement accessoirisé et dont le pouvoir d’évolution le rend particulièrement polyvalent et complet.

Nos travaux de Recherche et Développement nous conduisent aujourd’hui à la mise en place d’un dispositif (EBIC notamment) permettant l’alimentation électrique de systèmes au sein de la chambre du microscope.

Le passage du courant peut alors être observé, caractérisé et des défaillances électriques diagnostiquées.