Microscopie Électronique à Balayage

Découvrez comment nous scrutons la matière pour en révéler les moindres défauts !

Micro analyse

La microscopie électronique nous offre un incroyable champ d’investigation

La technologie de la microscopie électronique à balayage (appelée également MEB) nous permet de scruter la matière et sa composition dans ses plus infimes recoins, pour notamment révéler des défauts de métallisation de surface, visualiser des strictions de contact, mesurer des rugosités, analyser des compositions, mesurer des épaisseurs de revêtement, définir la stœchiométrie d’oxydes, réaliser des cartographies X et des topographies de surface…

Les défaillances n’ont plus de secrets

Analyse de défaillance

Comprendre et analyser pour améliorer

Initiées par la détection d’une défaillance macroscopique, les observations et les analyses au microscope permettent d’en éclairer les causes et les origines, jusqu’aux échelles les plus fines. 

Observation de micro-sections

Métallisation, épaisseurs de revêtements et porosité

Pluridisciplinaire dans la diversité des échantillons qu’il peut analyser, le MEB nous permet de sonder la matière.

Les zones les plus intrinsèques peuvent faire l’objet de micro-sections.

Cette préparation préalable et reposant sur la réalisation de découpes est aussi connue sous le nom de « cross-section ».

 

Coupe métallographique

Dévoiler la microstructure du métal

La structure des matériaux métalliques leur confère des propriétés physico-chimiques.

La taille de grains, l’hétérogénéité, la croissance d’intermétalliques, l’oxydation et la pollution sont des caractéristiques intrinsèques que nous pouvons révéler grâce au MEB.

Fractométrie, endommagement et striction

La mécanique à l’échelle microscopique

En industrie, le bon comportement mécanique doit être garanti durant toute la vie du produit. Le MEB est plébiscité dans les domaines les plus pointus pour sa capacité à permettre l’analyse et la compréhension de mécanismes d’endommagement complexes: rupture fragile/ductile, striction, fatigue.

Découvrez notre Microscope Électronique à Balayage 

Analyse chimique et fretting corrosion

Microanalyses et cartographie 

Équipé d’un détecteur permettant de réaliser des analyses EDS (Energy dispersive X-ray spectroscopy), nous pouvons analyser chimiquement la surface d’un échantillon après fretting corrosion notamment: épaisseur du revêtement et du revêtement résiduel (Sn, Ag, Au et autre alliage), épaisseur des couches intermétalliques, composition du substrat.

Le relief à portée de vue

Topographie de surface et profilométrie

La topographie de surface est une des données naturellement générées par l’interaction électron-matière de l’échantillon. Pour aller plus loin dans l’exploitation de cette information, le microscope possède un logiciel dédié exclusivement à cette thématique. Nous sommes à même de vous fournir, des cartographies 3D de relief, des courbes de profil, des épaisseurs ainsi que des volumes de matière abrasée. Les principales valeurs de rugosité comme le Ra et bien d’autres sont désormais accessibles.

Recherche & Développement

Pour aller plus loin

Doté d’un pouvoir évolutif fort, le microscope pourra être un faisceau de développement de votre Recherche.

Vous avez un projet ambitieux, une problématique complexe ? N’hésitez pas à nous solliciter pour que nous vous aidions à relever vos défis !

Expertise de soudures, pads, vias, whiskers

PCB (circuits imprimés et circuits Flex), brasures, vias

Examen de PCB en observation SE et analyse chimique BSE. Analyse de la qualité des soudures, des taux de remplissages, de la qualité de métallisation des vias, des éventuelles délaminations et cracks intermétalliques. Visualisation des croissances whiskers.

Vous souhaitez faire analyser les défauts de métallisation de vos composants électriques ?